Author Topic: Using Probe for EPMA software in "demonstration mode" to teach EPMA  (Read 37684 times)

John Donovan

  • Administrator
  • Emeritus
  • *****
  • Posts: 2772
  • Other duties as assigned...
    • Probe Software
Re: Using Probe for EPMA software in "demonstration mode" to teach EPMA
« Reply #75 on: August 21, 2021, 09:42:47 AM »
It is worth mentioning that one can simulate time dependent intensity (TDI) effects in Probe for EPMA for teaching microprobe techniques.  However, there are a few caveats:

1. First one needs to turn off the Penepma simulation mode for the TDI simulation using the checkbox as shown here:



Note also the "tooltip" pop up help that mentions this. The only downside of turning off the Penepma simulation is that wavescans will only contain a single peak for the specified emission line, but since the Penepma simulation can be turned off for (TDI) unknowns and/or standards and turned on for wavescans, this shouldn't be a problem.

2. So once the Penepma simulation is turned off and the TDI acquisition is turned on in the Special Options dialog, the first element in the acquisition will always utilize a "Na" type log-linear intensity decay, while the second element will always utilize a "Si" smaller log-linear increase in intensity as one would normally observe in an alkali glass specimen.

Therefore to simulate TDI effects when teaching EPMA please realize that these TDI effects will only be generated when Penepma simulations are turned off in the Acquisition Options dialog and "self" TDI acquisitions are selected in the Special Options dialog, both accessed from the Acquire! window.

Then you will be able to display simulated  TDI intensities as shown here for the first element "Na":



And perform quantitative analyses of these "beam sensitive" materials for teaching in simulation or demonstration mode:

Un    6 Obsidian CAMM 112, Results in Elemental Weight Percents
 
ELEM:       Na      Si      Ti      Al      Fe      Mg      Mn       P      Ca       K       H       O
TYPE:     ANAL    ANAL    SPEC    SPEC    SPEC    SPEC    SPEC    SPEC    SPEC    SPEC    SPEC    SPEC
BGDS:      LIN     LIN
TIME:    10.00   10.00     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
BEAM:    30.01   30.01     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---

ELEM:       Na      Si      Ti      Al      Fe      Mg      Mn       P      Ca       K       H       O   SUM 
    34   3.044  33.456    .060   6.563    .909    .018    .015    .003    .322   3.761    .086  49.326  97.563
    35   2.837  33.586    .060   6.563    .909    .018    .015    .003    .322   3.761    .086  49.326  97.486
    36   3.127  33.961    .060   6.563    .909    .018    .015    .003    .322   3.761    .086  49.326  98.151
    37   3.151  33.766    .060   6.563    .909    .018    .015    .003    .322   3.761    .086  49.326  97.980

AVER:    3.040  33.692    .060   6.563    .909    .018    .015    .003    .322   3.761    .086  49.326  97.795
SDEV:     .143    .220    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .322
SERR:     .071    .110    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .000    .000
%RSD:     4.70     .65     .00     .00     .00     .00     .00     .00     .00     .00     .00     .00
STDS:      336      14     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---

STKF:    .0735   .4101     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
STCT:    26.25  144.09     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---

UNKF:    .0165   .2764     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
UNCT:     5.90   97.12     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
UNBG:      .42     .86     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---

ZCOR:   1.8380  1.2188     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
KRAW:    .2249   .6741     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
PKBG:    15.05  114.76     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---

TDI%:   10.394  -2.482     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
DEV%:      1.5      .2     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
TDIF:  LOG-LIN LOG-LIN     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
TDIT:    13.00   13.00     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
TDII:     6.36    97.9     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
TDIL:     1.85    4.58     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---     ---
« Last Edit: August 21, 2021, 06:01:09 PM by John Donovan »
John J. Donovan, Pres. 
(541) 343-3400

"Not Absolutely Certain, Yet Reliable"

John Donovan

  • Administrator
  • Emeritus
  • *****
  • Posts: 2772
  • Other duties as assigned...
    • Probe Software
Re: Using Probe for EPMA software in "demonstration mode" to teach EPMA
« Reply #76 on: August 22, 2021, 09:26:44 AM »
And finally another "tweak" to improve the simulation mode in Probe for EPMA: we modified the background curvature model to produce background intensities (as a function of sin theta) for LDE/PC Bragg multi-layer crystals that more closely resemble what we actually observe on the actual instrument:



This allows one to model curved backgrounds more easily in simulation mode. Update PFE as usual to obtain this improved wavescan simulation for teaching and training off-line.
John J. Donovan, Pres. 
(541) 343-3400

"Not Absolutely Certain, Yet Reliable"